Olympus LEXT OLS5100 конфокальный сканирующий 3D-микроскоп

Лазерный сканирующий 3D-микроскоп Olympus LEXT OLS5100 создан специально для анализа материалов и исследований в области материаловедения. Он сочетает в себе исключительную точность измерений, превосходные оптические характеристики и «умные» функции, оптимизирующие рабочий процесс. Точное измерение формы и шероховатости поверхности на субмикронном уровне упрощает рабочий процесс и гарантирует достоверность данных. С помощью этого клонфокального лазерного сканирующего микроскопа можно легко создавать бесконтактные, неразрушающие 3D-наблюдения и измерения.

Основные области применения:

• Материаловедение;
• Приборостроение и микроэлектроника;
• Геометрические измерения;
• Измерение шероховатостей и отклонения формы;
• Криминалистика.

Благодаря возможности выполнять точные трехмерные измерения на широком диапазоне типов образцов, система предоставляет надежные данные для обеспечения качества и технологического контроля. Фиолетовый лазер 405 нм и специальные светосильные объективы позволяют фиксировать мелкие узоры и дефекты, которые обычные оптические микроскопы, интерферометры белого света или микроскопы на основе красного лазера не могут обнаружить.

Специальные объективы LEXT способны с высокой точностью выполнять измерения на периферийных зонах, которые зачастую искажаются. Оптическая система Olympus уменьшает аберрацию для правильного захвата формы вашего образца по всему полю зрения. Технология 4K сканирования поддерживает разрешающую способность 4 096 пикселей. Микроскоп OLS5100 может выявлять почти вертикальные уклоны, а также мельчайшие возвышения без необходимости коррекции изображения. Поскольку в обычных лазерных микроскопах используются стандартные методы обработки изображений (такие как сглаживание, для устранения шума) иногда вместе с шумом могут быть удалены точно измеренные незначительные перепады высоты.

Микроскоп OLS5100 использует алгоритм Olympus Smart Judge для автоматического обнаружения только достоверной информации, облегчая точные измерения без потери данных о перепадах высоты. Система оснащена автоматическим сбором данных, поэтому сложные настройки больше не нужны. Даже с минимальным обучением пользователь может получить точные результаты.

Все операции и процедуры, включенные в отчет, могут быть сохранены в виде шаблона. Использование этого шаблона при повторении тех же измерений позволяет получить отчет об анализе следующего набора данных, который применяет те же процедуры. Возможность задавать операции обработки и точки измерения без вмешательства оператора обеспечивает быстрый и точный анализ с минимальными отклонениями.

Удлиняемая рама для микроскопа OLS5100 вмещает образцы высотой до 210 мм, а объектив с очень большим рабочим расстоянием облегчает измерение вогнутостей до 25 мм. В обоих случаях, все что от вас требуется — это поместить образец на предметный столик.

Основные особенности конфокального лазерного сканирующего 3D-микроскопа Olympus LEXT OLS5100:

• двухканальная система лазерного сканирования;
• способность вмещать образцы величиной до 210 мм;
• исследование вогнутых поверхностей на глубину до 25 мм;
• измеряемая высота по оси Z — от 6 нм;
• латеральное разрешение изображения в лазерном режиме — 120 нм;
• возможность проведения измерений на панорамных 2D- и 3D-изображениях;
• разрешение одного кадра в режиме лазерного сканирования — 4096 × 4096 точек;
• возможность измерения толщин полупрозрачных покрытий.

У нас можно купить Olympus LEXT OLS5100 конфокальный лазерный сканирующий 3D-микроскоп с доставкой по России и низкой ценой на ремонт и обслуживание.